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TO252-3L老化
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镀金开尔文夹具
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eMMC153/169_eMCP162/186/221三合一转SD接口
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EMMC100
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_BGA100烧录座
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eMMC5.0转USB3.0
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_HS200高速读写适配器Adapter
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eMCP编程器38P魅族LPDDR221翻盖弹片转USB
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TSOP48转接板/TSOP48
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QFN32-0.4mm间距合金翻盖探针
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QFN32-0.5mm间距合金探针翻盖
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QFN28-0.5mm间距合金翻盖探针
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BGA63-0.8间距翻盖探针转DIP48
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BTB连接器-0.35-40pin微针模组
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DDR内存条
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夹具_一拖八内存颗粒
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DDR3内存颗粒
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夹具_探针测试座
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SOP8-1.27翻盖双层板开尔文
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LGA66-0.35间距合金探针翻盖
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邮票孔240PIN-0.8间距合金探针翻盖
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QFN28-0.5mm间距合金探针翻盖
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手机芯片UFS2.0 2.1合金探针翻盖
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模块144pin-1.0mm间距合金旋钮翻盖探针
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邮票孔24pin-1.1mm间距合金探针翻盖旋钮
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TO252-3L老化测试座镀金开尔文夹具
销量：569
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eMMC153/169_eMCP162/186/221三合一转SD接口测试座
销量：896
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EMMC100测试座_BGA100烧录座
销量：1239
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eMMC5.0转USB3.0测试座_HS200高速读写适配器Adapter
销量：1432
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eMCP编程器38P魅族LPDDR221翻盖弹片转USB测试座
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TSOP48转接板/TSOP48测试座
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QFN32-0.4mm间距合金翻盖探针测试座
销量：120
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QFN32-0.5mm间距合金探针翻盖测试座
销量：151
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QFN28-0.5mm间距合金翻盖探针测试座
销量：22
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BGA63-0.8间距翻盖探针转DIP48测试座
销量：154
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BTB连接器-0.35-40pin微针模组测试座
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DDR内存条测试夹具_一拖八内存颗粒测试座
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DDR3内存颗粒测试座_测试夹具_探针测试座
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SOP8-1.27翻盖双层板开尔文测试座
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LGA66-0.35间距合金探针翻盖测试座
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邮票孔240PIN-0.8间距合金探针翻盖测试座
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QFN28-0.5mm间距合金探针翻盖测试座
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手机芯片UFS2.0 2.1合金探针翻盖测试座
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模块144pin-1.0mm间距合金旋钮翻盖探针测试座
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邮票孔24pin-1.1mm间距合金探针翻盖旋钮测试座
销量：47
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