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BGA316/272pin芯片测试座
BGA316芯片测试座 BGA272探针座子 NAND 高速闪存测试座 过高频
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商品名称:BGA316/272pin芯片测试座
商品编号:HY001251
店铺:鸿怡商城
重量:0克
上架时间:2022-08-26 14:19:35

鸿怡电子生产的BGA316/272pin芯片测试座产品简介:

产品均有尺寸图纸,如有需要请联系客服提供!

厂家直销、欢迎批发代理。

BGA272/BGA316翻盖探针测试座

产品用途:测试座,对BGA316/272的闪存芯片进行测试

适用封装:BGA272/BGA316 引脚间距0.8mm,尺寸14×18mm

特点:

1. 无需焊接,直接锁上螺丝即可。翻盖换取芯片方便,操作简单

2. 兼容有球或无球测试!

3. 老化温度范围 -55℃~+155℃

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