鸿怡电子生产的BGA152/132翻盖探针老化座
产品简介
一、产品用途:BGA152/132探针测试座，对BGA152/BGA132的芯片进行测试
二、适用封装:BGA152/BGA132 引脚间距1.0mm
三、BGA152/132翻盖探针老化座:BGA152-1.0
四、有球无球兼容测试，测试稳定
五、特点:探针采用进口的，电流能过3A、寿命达15万次以上、测试传输速度快。翻盖换取芯片方便，操作简单
规格尺寸
一、型号:BGA152/132-1.0
二、引脚间距(mm):1.0
适配芯片尺寸:
14*18mm (BGA152) ,
12*18mm (BGA132) ,
可更换限位框
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