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CSP36合金翻盖探针老化测试座

CSP36耐高温老化测试座，

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商品名称：CSP36合金翻盖探针老化测试座

商品编号：HY001240

店铺：鸿怡商城

重量：0克

上架时间：2022-08-11 16:45:21

鸿怡电子生产的测试座型号 :CSP36合金翻盖探针老化测试座

IC本体尺寸 : 根据客户芯片尺寸

IC含脚尺寸 : 根据客户芯片尺寸

IC 间距 : 0.4mm

IC 封装 : CSP4

高低温范围 : -45℃ ~ +175℃

CSP36测试座

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