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TO263-3L-2.54mm间距老化测试座

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商品名称：TO263-3L-2.54mm间距老化测试座

商品编号：HY001235

店铺：鸿怡商城

重量：0克

上架时间：2022-08-10 18:16:35

深圳市鸿怡电子提供的TO263-3L-2.54mm间距老化测试座， TO263-3L开尔文测试座

封装类型：TO263-3L

间距：2.54mm

尺寸：10.4mm

老化湿度：85%

老化温度：-55°—+175°

老化时长：3000h

TO263-3L-2.54mm间距老化测试座.jpg

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