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深圳市鸿怡电子生产TO252-3L老化测试座镀金开尔文夹具,TO252老化测试插座
封装类型:TO252-3L
间距:2.3mm
尺寸:5.5mm
老化温度:-55°—+175°
老化时长:3000h
老化湿度:85%
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