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固态硬盘SSD主控芯片、缓存芯片、闪存芯片详解与测试
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固态硬盘SSD主控芯片、缓存芯片、闪存芯片详解与测试
固态硬盘SSD分解与测试
固态硬盘又被称为SSD，是一种较为新型的数据存储介质。因为它是由控制单元和存储单元组成的（FLASH芯片，DRAM芯片)组成，简单来说就是用固态电子存储芯片阵列制成的硬盘，因为它没有类似机械硬盘的机械结构，整体更像是固态的PCB板，因此得名固态硬盘。
固态硬盘（SSD）主要由三部分组成：主控芯片、闪存颗粒和缓存单元。主控芯片的核心部件也是技术含量最高的部件。这类似于显示屏，许多制造商只负责制造SSD和NAND存储物理部分，但控制部分需要额外的芯片。
不同的SSD内置主控芯片FTL算法不同，数据压缩/解压算法不同，控制通道数也不同。SSD主控芯片将直接影响其性能，
SSD结构：
SSD主控芯片：SSD主控本身就是一个CPU，负责控制闪存的识别和读写，SSD主控制芯片几乎完成了固态磁盘中涉及的所有控制指令操作和数据读写操作
SSD缓存芯片：缓存就是这个CPU使用的内存DRAM，数据现在存储在这里，然后写入闪存颗粒，以缓冲数据交换
SSD闪存芯片：实际上是数据存储的最终位置，从主控安排接受相应的数据并长期保存，根据不同的架构分为：SLC，MLC，TLC等
关于SSD主控芯片测试，在鸿怡电子测试座、测试治具、测试架的实际应用中，整理几款实际案例所使用的SSD测试设备
1、苹果SSD220球一拖二测试架
2、SSD固态硬盘 /半成品U盘测试座BGA132翻盖弹片转DIP48(14x18)测试
3、BGA152BGA132SSD颗粒闪存测试座转DIP48烧录读写老化座夹具测试架
4、SSD m.2固态硬盘转mSATA接口连接治具夹具SATA转USB3.0接口JMS578
5、SSD测试老化板一拖六设计老化板
6、2246EN 2256K主控测试治具 SSD主控测试夹具 JM608主控测试
