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TO封装芯片测试、老化、烧录该怎么选测试座socket

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TO封装芯片系列之①汽车电子行业应用

电子元件有不同的封装类型。虽然不同类型的元件外观相似,但内部结构和用途却大不相同。TO可能是三极管、可控硅、场效应管甚至双二极管。TO-3封装的元器件有三极管,集成电路等。今天我们就来盘点一下常见的二极管、三极管,MOS下图包含精确尺寸的封装类型。

 

两种包装形式各有优缺点,TO-220包装是中小型集成电路常用的大功率晶体管直插式包装形式。分为全包(塑封)和半包(铁封)两种,其中塑封封装可以实现散热片和外部的电绝缘,铁封封装的散热效果则更好,可以满足电路灵活设计和不同需求。与贴片封装相比,直接插入具有更好的散热效果,便于增加光学器件不同于器件不同,光学器件不仅包含电学部分,还包含光学准直机构,因此其封装结构复杂,通常由一些不同的子部件组成。

 

子部件一般有两种结构,一种是激光二极管、光电探测器等有源部件安装在封闭封装中,同一封装只能包含一个有源光部件,或与其他部件集成。TO-CAN这是最常见的一种,它的管帽上有透镜或玻璃窗,管脚一般用“金属-玻璃”密封。这种以TO-CAN形式包装的部件一般用于更高层次的组装,如适当的光路矫直机构和外部驱动电路,形成光传输或接收模块和集成模块。

 

本期主要聊聊汽车电子行业中的关于PFC,DC/DC,FlybackSR芯片的测试,

这几款封装芯片如下:

PFCDC/DCTO247/TO247-4L/TO263-2L

SRTOLLTO220CTO263-2LPDFN5*6

FlybackTO220FTO252

 

在鸿怡电子TO测试座的应用中,目前我们认为先进包装的难点首先是缺乏专用软件和工具。我们需要面对非常复杂的物理问题,如电磁干扰、信号干扰、电流、电压、热量和应力。毕竟,脚的大小、电压和信号干扰都是棘手的问题,需要综合考虑,否则会有很多芯片故障。

 

以下均为整理的市面上的现货标品,目前市场上主流的为TO252系列的测试座socket

 

1、TO3P/3PL/TO220/TO247/TO264测试座-支持10A电流

 

2TO252-3L-2.3mm老化测试座,TO252-5L老化测试座,烧录座

 

3TO263老化测试座-烧录座

 

4PDFN5×6测试座

 


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