鸿怡电子DDR内存条测试治具

动态存储器：在指定功能或应用软件之间共享的存储器。如果一个或两个应用软件占用了所有存储器空间，此时将无法为其他应用软件分配存储器空间。 例如，日历、短信息和电话簿 (或通讯录) 可能会共享移动设备中的动态存储器。一般计算机系统使用的随机存取内存(RAM)可分动态随机存取内存(DRAM)与静态随机存取内存(SRAM)两种，差异在于DRAM需要由存储器控制电路按一定周期对存储器刷新，才能维系数据保存，SRAM的数据则不需要刷新过程，在上电期间，数据不会丢失。

由数个IC所组成的微型集成电路，IC在较长时间运行下非常容易影响到IC的寿命，导致系统故障，目前的IC的体积越来越小，也更容易受到环境因素的损害，尤其是在高温使用中，或者是灰尘的侵害也有可能导致运行不稳定，一个晶圆中可能有品质好的IC，也肯定有不好的。如此一来也会造成系统运行不稳定，在CPU的使用中也会产生高温，高温作业对内存条芯片也是一种极大考验，较长时间高温也是芯片不稳定的因素，为了保证最大的可靠性，内存条通常需要经过两个级别的测试。

1. 先进的芯片级别测试，筛选具有最佳可靠性和质量特性的 IC芯片，适用于需要大幅度的高低温测试可靠性测试。

2. 增强的整内存条级测试：老化测试和自动测试设备 (ATE) 保证模块达到甚至超过合格参数。

鸿怡电子DDR4 内存颗粒测试治具 一拖八 8位DDR4内存条测试夹具 导电胶

1、采用台湾著名厂家生产的内存颗粒测试专用 PCB，金手指、IC 焊盘镀金层是普通 PCB 的5倍，保证测试治具有更好的导通和耐磨性 ，相比同类产品具有更好的超频性能及使用寿命；

2、适用于：三星、海力士、现代、华邦、镁光、等各类品牌ddr4内存颗粒 产品通用性高，只需换颗粒限位框，即可测试尺寸不同的颗粒（宽度≤13MM 长度≤14MM）；

3、产品全新设计，相比以前更薄，预留插槽卡位，不需转接槽可直接插到测试板上进行测试，

4、把频率衰减降到最低，减少误测；

5、球无球均可测试，颗粒压板通过使用高精度自适应弹簧保证每个 IC 平衡下压；

6、采用手动翻盖滚轴式结构，操作省力方便，相比同类产品减少磨损，达到更高的使用寿命；

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