芯片工程师为你总结的IC老化测试中需要注意的九点  

集成ic老化的针对半导体测试来讲是至关重要的，但有哪些方面需要注意的地方呢？依据以往的经验，小编总结了9个必须关注的问题点，在这篇文章中，小编来聊聊。DFT技术工程师可以根据这9点来思考和优化你自己的集成ic老化测试实施方案：

1.我们应该走多远才能通过老龄化减少过早死亡？

BI(Burn-in)/ELFR(EarlyLifeFailureRate)：依据BI办法-DPPM(DefectPartsPer-Million)评定早死阶段的失效率或降低出货的早死率。

老化要注意的关键点：实验自然环境（空气相对湿度、工作温度、压力等）、实验时间、实验负荷量、动静态式的实验，还包括（但不限于）：实验时间、试样数目、测试目的、所需要置信度、所需要精密度、成本费用、加速因子、实地自然环境、测试环境、加速因子测算、威布尔分布斜率或β参数（β<1表明初期不起作用，β>1表明耗光不起作用）。

a.实验自然环境：这方面的工作温度，一般是室温，70℃，125℃，155℃，175℃甚至更高，依照有所不同等级的检测标准合理安排；在空气相对湿度层面，依据检测标准确定80/85%的空气相对湿度和其他空气相对湿度标准；

b.检测时间，一般分为24H，168H，1000H等；

二.老化可以节省多少成本费用？

老化测试过程中的的钱花在那里？

a.测试系统;b.老化炉/高温试验箱;c.老化板；d.老化测试座;f.人力等；

上述5点中，实际上成本短期内来看相比比较大测试系统及其老化炉和高温试验箱，这些一般是搭配销售的，通常情况下生产销售高温试验箱老化炉的公司都会有这方面的整体实力制造与机器设备配合的测试系统，协助顾客更好的进行老化测试工作；

长期来看，老化板和IC老化测试座才算是实际的大头。随之芯片的I/O数愈来愈多和集成ic功能多样性再有检测数量的增加，大批量老化测试时，芯片的老化测试板也随着有更多层，越来越多设计需求的要求，所以其老化测试的成本也会更高。无疑是每个老化测试运用公司不肯替换老化板的根本原因，成本费用实在是太高；此外长期性大头也是IC老化测试座了，这个产品属于易耗品，世界各国测试座先驱者公司都保持一致将这个测试座的寿命定于10000次，所以在批量生产检测的情况下，这一个测试座的耗费到底到底有多少，大家可以看看自己家公司的具体情况，有没有能用堆积成山来形容。所以寻找一家合适的老化座公司并长期稳定合作成为了测试部门的一块心病。关于老化测试座的选择，大家可密切关注鸿怡电子官网，我司可提供各种类型封装芯片的IC老化socket.

人力这方面，传统的检测，都是采用人力放置的方式，测试座是翻盖式IC测试座，在放置DUT时，基于检测样本数量的问题，人力数会要求比较多，与此同时检测也会有一定的误测。但是，伴随着人力成本的不断增加，及其自动化检测设备的发展和市场的需求，二三线芯片供应商也应用起自动化测试设备，人力的成本也慢慢降低；

三.应该在什么环境条件下进行老化？

通常情况下，贴合实际使用的检测是比较符合要求的，但是由于必须在短时间内解决检测标准，所以需要检测标准和自然条件超级加倍；

比如说，检测情况下的温度，必须高温高湿度以及蒸煮等等。

四.是否应该在系统、分系统或部件等级实现老化？

最佳的情况最好系统软件等级老化的，但是这种老化的情况下，对检测设备有很高的标准，说到底全套的体系成本很高。分系统的情况下，专门针对某些特殊的功能，这样一来，成本费用会比较适中。部件级别的检测会较为简单，检测成本费用也更低，但部件检测更为单一化。

五.谁应当承担供货商、买家或第三方老化？

这种看市场需求，通常大公司半导体测试比较完善的，因此通常情况下是不需要重测。不过一般的检测都是由买方和卖方去做，最后基本都是认为终端设备顾客服务为标准。

六.老化后的预期寿命是多少？它与没有老化的预期寿命有何不同？

老化后的预期寿命也会是有对应的标值的，通常情况下，125℃，检测1000个小时，预期寿命可以到3~5个小时；2000个小时，可以使用到7~10个小时；150℃，检测1000个小时，预期寿命7~10个小时；检测2000个小时，可以使用到20年左右；

经过老化测试之后的预期寿命，预期寿命更有依据；

七.老化是不是必要且经济的？

之前也做了老化成本费用的分析，经济不经济和必要不必要需要看芯片的情况。比如说车规芯片，涉及到安全驾驶，其检测更加严格，使用寿命更久，要求的测试环境更为严苛。

八.老化有副作用吗？

老化主要是用来排除早夭芯片的，一般来说，老化测试不会产生副作用，主要是因为老化测试是用来排除问题的；

九.行业将如何从老化数据中受益？

芯片行业老化的数据会对行业的发展产生非常积极的影响，会不断的推动这个行业朝着好的方向发展。下图是鸿怡电子设计的相应老化座/老化夹具

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