探针测试座？弹片测试座？有什么区别？
一、探针测试座？弹片测试座？有什么区别？
探针是电测试的接触媒介，为高端精密型电子五金元器件。
1.ICT探针 （ICT series Probes)
2.界面探针(Interface Probes)
3.微型探针（MicroSeries Probes)
4.开关探针（Switch Probes)
5.高频探针（Coaxial Probes)
6.旋转探针（Rotator Probes)
7.高电流探针（High Current Probes)
8.半导体探针 (Semiconductor Probes)
9.电池接触探针 (Battery and Connector Contacts)
10.汽车线束测试测试探针
二、IC芯片老化、测试、烧录主要用到种类，探针的主要参数。
5.高频探针（Coaxial Probes)
用于测试高频信号，有带屏蔽圈的可测试10GHz以内的和500MHz不带屏蔽圈的．
7.高电流探针（High Current Probes)
探针直径在2.54mm-4.75mm之间．最大的测试电流可达39amps.
8.半导体探针 (Semiconductor Probes)
直径一般在0.50mm-1.27mm之间．带宽大于10GHz,50Ω characteristic
探针的主要参数：
引脚数量 | 间距(mm) | 使用温度 | 最高IC频率 |
三、探针图片及解剖：
1、颜色：黄色
2、组成：针头+针管+弹簧
探针在测试座里的使用状况：有四个接触点，摩擦点多，高低温下容易变形，镀金范围广。目前国内的测试探针已超越国外品质，测试寿命一般在3-5万次。针对加工定制的测试寿命会延长，且出现问题后只需要更换问题探针就行，大大降低了企业的测试成本！
五、什么是弹片？
弹片是电测试的接触媒介，为精密型电子五金元器件，比探针工艺简单，使用性能比探针好。
弹片在测试里的使用状况：有二个接触点，没有摩擦点，高低温下不会变形，镀金范围小。弹性好，不会出现偏移，没有磨损，寿命长。
在不同的行业应用中，经鸿怡电子半导体IC封测实际运用，探针和弹片均适用于测试座、老化测试座、烧录座、测试夹具、测试治具、测试架上，主要是根据客户测试需求！
